確定性能損失原因的最終方法是對(duì)反滲透膜元件作破壞性解剖分析。而膜面分析主要是利用立體與標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)顯微鏡或掃描電子顯微鏡來(lái)確定沉積物的形態(tài)。本文主要介紹反滲透膜的解剖分析和膜面分析。
反滲透膜的解剖分析：
當(dāng)除去反滲透膜元件末端的抗應(yīng)力器和纏繞外皮時(shí)，就可以打開(kāi)元件內(nèi)的膜葉。沿膜元件軸向均勻切開(kāi)2~4個(gè)切縫，切縫的深度正好深及纏繞的外皮，然后仔細(xì)打開(kāi)膜元件，不至于傷及膜表面，檢查膜葉完整性，全面認(rèn)真地查看膜表面，裁剪反滲透膜樣品或收集污垢物，進(jìn)行化學(xué)分析或膜片平板性能測(cè)試。
加壓染料試驗(yàn)：為了確定高漏鹽率的原因和位置，在解剖反滲透膜元件前，應(yīng)配制染料溶液對(duì)膜元件進(jìn)行加壓運(yùn)行，所用染料為若丹明B（堿性蕊香紅，一種紅色熒光染料），產(chǎn)水出現(xiàn)紅色代表該反滲透膜受到破壞，解剖經(jīng)過(guò)染料處理過(guò)的膜元件，查看染料的漏點(diǎn)，膜有損壞的區(qū)域會(huì)殘留紅色，這種評(píng)估方法能幫助辯別膜的化學(xué)損壞（如氧化）和機(jī)械損壞（如產(chǎn)水背壓）。
反滲透膜的膜面分析：
反滲透膜表面或污垢與水垢層所含化學(xué)元素可從能量散射X－射線熒光分光法（EDXRF）確定，通過(guò)EDXRF分析未經(jīng)處理過(guò)的膜片樣品、經(jīng)清洗過(guò)和經(jīng)沖洗過(guò)的膜片樣品以及收集到的干燥污垢物等，確定反滲透膜和污垢內(nèi)化學(xué)元素的半定量結(jié)果，這種方法可以作為膜被鹵代化合物破壞的證據(jù)，可能檢測(cè)到的典型元素為Ca，Ba，Sr，S（結(jié)垢物內(nèi)），F(xiàn)e，Si，Pb，Zn（膠體污物內(nèi)）和Cl，Br，I（氧化性破壞）。但該法不能確定完全由有機(jī)物和微生物污染所致的故障。
通過(guò)電子光譜化學(xué)分析ESCA可以鑒別與反滲透膜表面有機(jī)結(jié)合的雜質(zhì)，這一方法主要用于確定氧化性破壞的來(lái)源。
平板膜片評(píng)估-反滲透膜元件解剖之后進(jìn)行這一評(píng)估測(cè)試：裁剪下膜片樣品，該樣品可采用各種不同的化學(xué)品清洗或處理，根據(jù)樣品的對(duì)比，比較經(jīng)過(guò)不同方法處理后的膜片樣品的性能變化。
